光学比较测角仪原理

　　光学比较测角仪的原理主要基于光学自准直原理，这是一种利用光学系统进行角度测量的高精度方法。以下是光学比较测角仪原理的详细解析：

　　一、基本原理

　　光学自准直原理：光学自准直原理是通过一个带有自准直目镜的自准直望远镜来测量角度的方法。自准直望远镜发出的平行光投射在被测物体（如棱形平板玻璃）上，部分光线被反射回望远镜，形成反射像。通过观测反射像与分划板上的基准像之间的位置关系，可以计算出被测物体的角度偏差。

　　反射与折射：当平行光垂直或接近垂直地投射在没有镀膜的玻璃表面时，部分光线会被反射回来，另一部分光线则透过玻璃表面。反射回来的光线经过物镜后，在分划板上形成反射像。如果玻璃表面存在角度偏差，反射回来的光线将偏离原始路径，从而在分划板上形成与基准像分开的反射像。

　　二、构造与组成

　　光学比较测角仪主要由以下几部分组成：

　　自准直望远镜：包括物镜、分划板和目镜等部件，用于发出平行光并观测反射像。

　　承物台：用于放置被测物体，确保测量时物体位置稳定。

　　支架与支臂：支撑整个仪器并提供必要的调整空间，确保望远镜可以沿光轴方向转动或移动。

　　测微器：用于精确读取分划板上的刻度值，提高测量精度。

　　三、测量过程

　　准备阶段：将光学比较测角仪放置在稳定的工作台上，调整望远镜至适当位置。

　　放置被测物体：将被测物体放置在承物台上，并确保其表面与望远镜光轴垂直或接近垂直。

　　观测与读数：通过目镜观测分划板上的反射像与基准像之间的位置关系，使用测微器精确读取刻度值。根据反射像与基准像之间的偏移量计算出被测物体的角度偏差。

　　四、特点与应用

　　光学比较测角仪具有结构简单、使用方便、视场清晰、精度高等特点。它广泛应用于金属与光学零件的角度测量、导轨直线性测量、零件部件平行度测量、两个平面垂直度测量等领域。此外，还可以与多面体或角度块组合使用进行分度测量等工作。

　　综上所述，光学比较测角仪通过光学自准直原理实现高精度角度测量，具有广泛的应用前景和重要的实用价值。